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世界电子元器件: 泛华测控推出柔性测试技术 开拓测试测量新时代2008-03-31 08:00:00
泛华测控推出柔性测试技术 开拓测试测量新时代 来自: 世界电子元器件 2008-03-31 08:00:00 摘要:北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术--柔性测试技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念,明确了测试测量技术的发展方向。.. 还没有人对本文章进行了评论,欢迎您发表评论! |
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