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世界电子元器件：

吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术

  2008-03-31 08:00:00
世界电子元器件
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最近更新：2008-04-22 04:25:34
吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术
来自： 世界电子元器件  2008-03-31 08:00:00
摘要：吉时利仪器日前宣布将与Strato- sphere Solutions公司合作,采用阵列TEG(测试元件组)技术展开先进工艺研发和监测工作。双方的合作为彼此客户提供一种独特特征分析基本架构,使用吉时利S600系列参数测试仪..

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